芯片金球焊點剪切力測試儀擁有多項功能,應用操作中可執(zhí)行芯片器件推拉力和剪切力的測試操作。廣泛應用于半導體封裝、光通訊器材件封裝、LED封裝、COB/COG工藝測試、研究所材料力學研究、材料可靠性測試等應用領(lǐng)域,是Bond工藝、SMT工藝、鍵合工藝等不可缺少的動態(tài)力學檢測儀器

芯片金球焊點剪切力測試儀測試類型及相應標準:

冷/熱焊凸塊拉力 -JEITA EIAJ ET-7407

BGA凸點剪切 -JEDEC JESD22-B117A

冷焊凸塊拉力 -JEDEC JESD22-B115

金球剪切 -JEDEC JESD22-B116

球焊剪切 -ASTM F1269

引線拉力 -DT/NDT MIL STD 883

芯片剪切 -MIL STD 883§

立柱拉力 -MIL STD 883§

倒裝焊拉力 -JEDEC JESD22-B109

產(chǎn)品特點:

1.廣泛的測試能力

當前新興的應用為迎合負載CARTRIDGE和標準及用裝置來進行高達500公斤的剪切測試,高達100公斤的拉力測試。高達50公斤的推力測試。(非標定制)

2.圖像采集系統(tǒng)

快速和簡單的設(shè)置,安裝在靠近測試頭位置,以幫助更快地測試。提高了測試自動化。

3.XY平臺

標準的XY平臺為160mm,可滿足范圍廣泛的測試需要。XY平臺也可定制。

產(chǎn)品應用:

焊帶拉力測試-多種鉤,鉗爪等負載具可以測試各種尺寸和類型的樣品。

銅線的焊球拉力測試,焊釘、柱狀凸塊的拉力測試-定制的拉力鉗爪可以在這項重要的連接處進行撕拉力測試。

拉力剪切力疲勞測試-疲勞分析正成為評估焊點可靠性中越來越重要的的方式,調(diào)節(jié)軟、硬件可采用拉力和剪切力兩周模式進行老疲勞分析

鈍化層剪切測試–使用軟件和特定負載具可進行焊球剪切力測試,而不受鈍化層的限制。        

具體芯片金球焊點剪切力測試儀可以與聯(lián)往檢測設(shè)備聯(lián)系